本发明公开了一种检测集成电路的测试探针卡，其探针座上成型有探针孔，探针孔内插接有探针，探针包括中部的止挡部，止挡部的上端面检测杆，检测杆的上端露出探针座的上端面，止挡部的下端成型有螺柱，螺柱上螺接有上永磁体，上永磁体的下侧的探针座探针孔内插接有下永磁体，下永磁体上端面的磁极和上永磁体下端面的磁极相同；探针座探针孔的侧壁上成型有凹槽，探针座凹槽内插接有竖直的导电片，导电片的上端成型有圆弧形的弹性部，弹性部压靠在探针的止挡部上，弹性部的下端弯折成型有连接部，连接部通过导电螺钉和下永磁体相连接导电螺钉抵靠在检测电路板上。它结构简单，制造及组装方便，能避免因弹簧机械疲劳失效而造成的接触不良。
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来源：北方有色网
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