本发明涉及一种基于预载程序动态信号检验的STM32总剂量效应测试方法，所述测试方法基于测试系统进行，所述测试系统包括载有STM32
芯片的最小电路，用于信号传输的通讯模块和用于接收信号的上位机；预载程序包含信号处理校验、存储校验和通信校验功能；测试方法包括如下步骤：布置测试系统、辐照前参数校验、辐照及在线功能监测、辐照结束、辐照后参数校验、损伤分析。本发明提供的测试方法一方面通过构建最小系统得出芯片在实际运行工况下的辐照损伤剂量，另一方面通过预载程序的多种动态信号检验功能对芯片内部各个器件的工作状态进行监控，得出STM32芯片具体的辐照失效模式和内部各器件的耐辐照能力高低。
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来源：北方有色网
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