本实用新型涉及半导体制冷片检测装置领域，公开了一种用于检测半导体制冷片内部电路的测试装置，包括导通条、绝缘定位条、电源和测试区域，测试区域用于放置待测半导体制冷片，绝缘定位条活动插入待测半导体制冷片内，导通条的两端分别为定位端和连接端，定位端活动插入待测半导体制冷片内，定位端与绝缘定位条在待测半导体制冷片内活动挡接，导通条靠近定位端的侧面设有导电部，导电部上固定有弹性导电体，弹性导电体与待测半导体制冷片内部待测电路部件连接，导通条的外侧面除了导电部和连接端以外部分均覆盖有绝缘层，通过本实用新型提供的测试装置，可以快速、准确、高效便捷的检测出制冷片内部电路的失效位置及其失效模式。
声明：
“用于检测半导体制冷片内部电路的测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1265
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
