本实用新型涉及半导体制冷片检测装置领域，公开了一种用于检测半导体制冷片内部电路的测试装置，包括导通条、绝缘定位条、电源和测试区域，测试区域用于放置待测半导体制冷片，绝缘定位条活动插入待测半导体制冷片内，导通条的两端分别为定位端和连接端，定位端活动插入待测半导体制冷片内，定位端与绝缘定位条在待测半导体制冷片内活动挡接，导通条靠近定位端的侧面设有导电部，导电部上固定有弹性导电体，弹性导电体与待测半导体制冷片内部待测电路部件连接，导通条的外侧面除了导电部和连接端以外部分均覆盖有绝缘层，通过本实用新型提供的测试装置，可以快速、准确、高效便捷的检测出制冷片内部电路的失效位置及其失效模式。
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来源：北方有色网
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