本发明公开了一种擦失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质，接收外部测试机的擦操作指令，存储
芯片内部对block依次执行预编程校验、擦除校验和软编程校验，若在上述校验中出现校验失败，则相应执行判断或者替换操作，最后向外部测试机报告测试结果；由于测试机不再进行查找、计算、判断和替换，计算量大大下降，从而降低了对测试机的性能需求，另外，由于失效存储单元的判断转由存储芯片内部完成，不依靠外部测试机的read判断，因此也提高了测试的准确度。
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“擦失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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