一种判断失效率与选择最佳预处理周期的方法, 至少包括 : 提供数个集成电路; 根据测试环境下各集成电路的有 效工作期限建立失效率一测试时间关系, 并建立加速因子函数, 它为测试环境的测试时间与正常工作环境的真实时间的关系 使用以测试时间或真实时间为变数的函数模拟失效率一时间 关系, 此测试时间与真实时间的转换使用加速因子函数, 且函数 的转折点即为最佳预处理周期; 对真实时间大於最佳预处理周 期的部份进行函数的积分计算, 以得到累积失效率一真实时间 函数。当函数转折点所对应的特定测试时间前已有不只一个集 成电路失效时, 可消除部份测量资料并重新找寻特定测试时间, 直到在特定测试时间前只有一个集成电路失效为止。
声明：
“判断失效率与选择最佳预处理周期的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1092
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
