一种基于失效物理的电子产品热循环试验加速因子及试验方案确定方法包括如下步骤：步骤1：基准热循环试验条件特征向量的确定；步骤2：电子产品特征矩阵的确定；步骤3：热循环试验条件特征矩阵的确定；步骤4：不同热循环试验条件下电子产品寿命特征矩阵的计算；步骤5：不同热循环试验条件电子产品加速因子的确定；步骤6：目标热循环试验方案的确定。该方法适用于分析电子产品热循环试验条件的应力水平，计算目标热循环试验条件与基准热循环试验条件相较的加速因子，可用于确定与基准热循环试验方案具有相同试验应力水平的电子产品热循环试验方案，属于电子产品热循环试验技术领域。
声明：
“基于失效物理的电子产品热循环试验加速因子及试验方案确定方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
785
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
