本申请公开了一种存储器
芯片测试的失效比特图制作方法、装置及电子设备。该方法包括：将被测试存储器芯片的每个存储库划分为第一数目个单位区域；从所述芯片中任选一个未被测试的存储库，在第一存储器中确定一存储空间，将存储空间划分为第一数目个单元；依次对被选的存储库中的各单位区域进行测试；根据在一个单位区域内检测到第一个失效比特，即在存储空间中标记出失效单元；根据被选的存储库中所有单位区域均被测试完成，转向从所述芯片中任选一未被测试的存储库，直至所述芯片中的存储库均被测试完为止；利用各失效单元构建第一失效比特图。本申请的方法大大简化了制作流程，缩短了失效比特图的制作耗时，提高了工作效率，降低了生产成本。
声明：
“存储器芯片测试的失效比特图制作方法、装置及电子设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1028
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
