一种固体继电器的老化和早期失效的检测方法，步骤为：1）为固体继电器施加激励信号，A/D采样电路采集动合触点压降或动断触点压降、动合断故障压降或动合粘故障压降；2）在激励信号的上升沿FPGA开启定时器，在负载电流通过固体继电器时，输出触发信号，测到触发信号时停止定时器；3）在脉冲信号的下降沿FPGA开启定时器，电平触发电路输出触发信号，FPGA检测到触发信号时停止定时器；4）采集到的数据存储至外部存储电路，显示器显示结果，检测装置包括FPGA、激励输出电路、负载电源、负载箱、触点状态指示灯电路、采样分压电路、电平触发电路、A/D采样电路、外部数据存储电路、工业控制计算机、故障报警器，检测简单、快速、精确、自动老化检测。
声明：
“固体继电器的老化和早期失效的检测方法及检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1007
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
