本发明涉及一种基于
芯片的失效分析平台及芯片选型方法，该平台包括：平台准入模块，用于判断欲进入平台的企业是否满足准入条件，基于已进入平台的企业的企业贡献度给予其不同等级的平台使用权限；信息采集模块，用于通过平台信息采集或者企业信息释放获取芯片失效分析信息；平台管理模块，用于对失效芯片信息进行审核，针对发布虚假信息企业基于惩戒，并考评企业给予激励；统计分析模块，用于利用数学模型对采集信息进行统计分析实现关键信息提取。本发明有效的将各种零散的失效分析案例整合起来，实现信息的规范化、统一化管理，消除“信息孤岛”，打破信息壁垒，形成可共享的知识平台；该平台对于芯片选型和芯片失效快速分析有重要支撑作用。
声明：
“基于芯片的失效分析平台及芯片选型方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
801
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
