本发明提供一种工业CT伪影校正方法，包括步骤：基于正投影法获得伪影场，对其进行阈值分割获得包含被测对象及受伪影强干扰的背景区域S(x,y)；实际CT图像Q(x,y)除去S(x,y)得到伪影弱干扰背景图像G(x,y)，获取其灰度直方统计图中最大峰值的灰度值；Q(x,y)中包括S(x,y)得到前景及伪影强干扰背景图像H(x,y)，获取[0,T]的最佳拟合高斯曲线；计算其概率密度函数并归一化处理；统计分析Q(x,y)中每个像素点的局部灰度，获取占比灰度值最大的灰度，计算其对应的归一化概率密度函数；对受伪影强干扰的背景区域灰度值校正及对Q(x,y)各个灰度值校正，与现有技术相比，本校正方法在针对单一材料复杂内部结构工件的CT扫描时，能有效降低伪影引起的灰度差异，实现精确、可靠、无损测量其内部结构尺寸。
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来源：北方有色网
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