本发明公开一种基于双谱分析的
复合材料孔隙率评估方法，包括：首先取一定数量孔隙率已知的材料为样本，以断
铅信号作为激励信号，采用不同类型接收传感器，利用双谱技术获得采集信号的谐波信息，获得单个样本不同接收传感器的谐波幅值衰减斜率；然后建立所有样本幅值衰减斜率与孔隙率之间的拟合方程；最后测出该批次待测材料的谐波幅值衰减斜率，并根据已建立的拟合方程，推算待测材料的孔隙率。本发明能在不破坏材料完整性的情况下对材料孔隙率做出较准确的评估，同时采用不同接收传感器测量激励信号在样本中的谐波幅值衰减率，减少了单一接收传感器检测产生的误差，提高了检测精度，是一种高效、准确的材料孔隙率无损检测新方法。
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“基于双谱分析的复合材料孔隙率评估方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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