本发明提供一种
芯片的供电测试治具，包括：芯片底座，所述芯片底座上设有多个芯片限位槽和芯片限位挡台，所述芯片限位槽与芯片限位挡台连接，所述芯片限位槽内设有芯片，所述芯片限位槽和所述芯片限位挡台相互配合对芯片进行限位，所述芯片上设有电路板，且所述芯片与所述电路板可拆卸式电连接以能够实现对芯片的供电测试；这样不仅在芯片的供电测试过程中实现了对芯片的无损限位，更避免了在测试过程中探针对芯片表面焊盘测试定位难和划伤芯片表面焊盘的技术问题，提高了生产效率的同时还降低了生产成本。
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“芯片的供电测试治具” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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