本发明公开了一种碳/
碳化硅复合材料内部缺陷厚度测量方法,设计并制备厚度梯度变化的缺陷材料标样,利用X射线照相检测标样,将照相底片扫描成电子图片得到其灰度图像;编程计算得到图像各缺陷区域与无缺陷区域灰度的比值,建立缺陷厚度与对应灰度比值标定函数关系式;再利用标定函数去计算同种材料在相同检测条件下缺陷的厚度,实现缺陷厚度的定量测量。本方法克服了传统X射线照相无损检测方法检测缺陷厚度过程中使用黑度计一次检测面积小、误差大、测量效率低等缺点,建立材料缺陷厚度与缺陷灰度和无缺陷灰度比值的标定函数关系,实现该种材料缺陷厚度的定量测量,检测效率高、精度较高。
声明：
“碳/碳化硅复合材料内部缺陷厚度测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
770
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
