本发明公开了一种电子纸模组，包括TFT模组，所述TFT模组的中部设有显示区域，所述TFT模组上设有一圈金属环绕线，所述金属环绕线靠近TFT模组的边缘布线，且所述金属环绕线的两端接近但保持间距。通过修改TFT模组的结构设计，在TFT模组的崩边规格参数范围内，于TFT的边缘靠内走一圈金属环绕线。后续在大板上将一个个设有金属环绕线的小片TFT切割下来后，将各TFT模组的金属环绕线与测试电路连接，如果测得电路可以导通说明金属环绕线无损伤，也即证明该片TFT模组没有崩边或暗裂质量问题，反之则证明检测产品不合格。
声明：
“电子纸模组及检测其崩边暗裂的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
955
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
