本发明公开了一种基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置，包括配置不同质量NaCl的绝缘子污秽样品；计算不同质量NaCl的绝缘子污秽样品的等值盐密；通过反射式太赫兹时域光谱仪对绝缘子污秽样品的等值盐密进行检测，得到绝缘子污秽样品的太赫兹光谱；通过绝缘子污秽样品的太赫兹光谱，建立不同等值盐密绝缘子污秽样品的光谱对比数据库，得到标准数据库；获取待测绝缘子，通过反射式太赫兹时域光谱仪得到待测绝缘子污秽的太赫兹光谱；将待测绝缘子污秽的太赫兹光谱与标准数据库进行对比，得到待测绝缘子表面污秽的等值盐密，进而可知待测绝缘子的污秽度。本发明通过太赫兹时域光谱技术，能够对绝缘子污秽度实现快速、准确、高效、无损的检测。
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“基于太赫兹时域光谱的绝缘子污秽度检测方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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