本发明公开了一种应变片外观缺损检测方法，采集应变片图像，对图像进行预处理，得出预处理后的应变片图像；并提取其中的应变片感兴趣区域；对应变片感兴趣区域进行预检测，分割出丝栅头，并得到丝栅头的坐标信息及数量信息，若预检测的应变片的丝栅头数量与标准无损的应变片丝栅头的数量相同，则继续检测，否则，返回产品为不合格品并保存；根据丝栅头坐标信息及应变片尺寸设计信息，得出去除了丝栅区的图像，并通过去除了丝栅区的图像，分割得到焊接区图像；对得到的丝栅区域图像和焊接区图像进行缺损检测，并根据检测结果判定应变片为合格品或不合格品；本发明解决了目前企业中对应变片缺损检测的成本高、效率低、检测结果不稳定的问题。
声明：
“应变片外观缺损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1190
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
