本发明公开了一种快速检测II型红外超晶格界面质量的光谱方法和装置。该装置包括具有步进扫描功能的傅里叶变换红外测量系统、作为泵浦光源的激光器、变温变磁场样品测量系统、以及联接傅立叶变换红外光谱仪中探测器和电路控制板的锁相放大器、置于变温变磁场样品测量系统和激光器之间光路上的斩波器。本发明使用上述设备，通过测试II型红外超晶格的光致发光强度随磁场的衰减程度，快速检测II型红外超晶格的界面晶格质量。通过对分子束外延生长的红外波段InAs/GaSb II型超晶格的测试表明：本发明方法是一种快速便捷的检测II型超晶格界面的光学方法，其具有无损灵敏的优点，非常适用于红外II型超晶格界面微弱光学信号的检测。
声明：
“快速检测II型红外超晶格界面质量的光谱方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
846
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
