一种平面
芯片电感无损测试装置，属于电子元器件测试领域。所述测试装置包括测试仪、高频测试夹具、测试定位模块、校准件、微带线。测试定位模块通过微带线与高频测试夹具连接，高频测试夹具通过另一微带线与所述测试仪连接，校准件与测试定位模块连接。测试定位模块包括模块基片、定位腔、底面电极、通孔、通孔金属化填充、定位腔表电极；校准件包括校准件基片、校准件表电极；校准件与定位腔的形状、结构及尺寸一致。解决了现有技术不能用于测试平面结构芯片电感的问题。广泛应用于小尺寸平面芯片电感测试，或其他平面型两端口电子器件电性能测试。
声明：
“平面芯片电感无损测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1064
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
