本发明公开了一种多缺陷材料M积分的无损测量方法，通过数字散斑相关技术，利用光学测量设备ARAMIS？4M(GOM？mbh)测得试件表面的位移场；通过均值滤波器对位移场进行平滑处理，并利用三次样条拟合求得位移场沿两个坐标轴的梯度；通过材料本构方程，计算材料表面应力场及应变能密度分布；代入M积分的定义表达式，选取包含缺陷的任意闭合路径，通过数值积分计算M积分值。该方法适用于各种不同的缺陷及缺陷群，可用于评估航天、航空、机械等领域各种形式的材料损伤与结构完整性。
声明：
“多缺陷材料M积分的无损测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
744
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
