通过配对连接一个激励发生器和一个响应鉴别器测试一种存储器阵列,特别是一种嵌入式存储器阵列。在不处于测试状态时引导所述配对处于透明方式,并且在测试状态时分别处于一个激励发生方式和一个响应鉴别方式。在随后的阵列修理状态中允许建立行和/或列介入修理。特别是,鉴别器将鉴别连续的故障模式的对应关系,并且另外把一个故障响应通知信号模式到外部电路,仅以一个无损耗压缩响应模式的形式根据在一个早先的故障模式和一个随后的故障模式之间的预定对应关系向两个被比较的模式中的一个发送通知信号。
声明：
“用于测试一个存储器阵列的方法和带有一个故障响应信号通知模式的可测试的基于存储器的设备,用于当在故障模式中发现预定的对应关系时仅以一个无损耗压缩响应的形式用信号通知这样一个故障模式” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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