本实用新型涉及一种用于超声波无损检测的便携式校核试块，所述校核试块近似呈梯形体，所述梯形体包括上底面、下底面、左斜面、右斜面、前端面和后端面，所述上底面平行于下底面且长度小于下底面，所述上底面与左斜面的内夹角为160°，所述上底面与右斜面的内夹角为150°，所述下底面与左斜面通过左过渡面过渡连接，所述下底面与右斜面通过右过渡面过渡连接,所述左过渡面、右过渡面均垂直于下底面；所述校核试块上设有从前端面垂直贯穿至后端面的圆孔；所述校核试块上设有刻度。本实用新型的优点在于：加工方面简单；试块体积小巧；将CSK‑IA和CSK‑IIA两块试块的部分功能集中设计在一块试块上，满足现场校核需要。
声明：
“用于超声波无损检测的便携式校核试块” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1133
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
