本发明公开了一种无损检测下的
芯片质量的评估系统及方法，所述评估系统包括参照信息采集模块、评估信息获取模块和分析评估模块，所述参照信息采集模块预先采集合格芯片的图像信息作为参照信息，所述参照信息包括字符信息、表面信息和管脚信息，所述评估信息获取模块获取待检测芯片的图像为评估图像，对评估图像进行预处理得到待评估信息，所述待评估信息包括待评估字符、待评估表面和待评估管脚，所述分析评估模块对参照信息和待评估信息分析，评估待检测芯片质量是否合格，在评估待检测芯片存在不合格时，输出待检测芯片的不合格内容。
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“无损检测下的芯片质量的评估系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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