本发明公开了一种瓜类下胚轴空心程度的无损检测方法及其应用，属于农作物育种及种植技术领域。上述无损检测方法是利用超声波进行苗期下胚轴空心程度的无损检测，通过对波长反馈，结合茎粗测量，可对空心程度进行量化，具有精准度高的优势，通过对下胚轴空心程度的无损检测，结合育苗环境、育苗时间等因素，可获得品种针对性的空心条件，进而获得该品种或该类品种配套的育苗技术，以避免或减少下胚轴空心，进而提高嫁接成活率，减少病害，且育种快速，提高了嫁接企业的效益，提升了瓜类砧木品种质量。
声明：
“瓜类下胚轴空心程度的无损检测方法及其应用” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
771
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
