本发明公开了一种基于磁芯环绕线圈结构的感应热像无损检测装置，在现有技术的基础上，对产生交变磁场的线圈进行改进，即采用全新的磁芯环绕线圈代替传统的圆形线圈或矩形线圈来产生交变磁场。可检出各种角度的导体试件的缺陷，克服了基于传统线圈的感应热像无损检测装置无法保证所有角度的缺陷都不与涡流流向平行，无法检出部分缺陷的不足。同时，本发明中的磁芯环绕线圈可以更有效地利用激励线圈激发出的磁场在导体试件内感生出强度更大的涡流场，进而产生更大面积的较均匀的涡流场对导体试件进行加热，提高了热图中缺陷区域与非缺陷区域的温度对比度，提高了缺陷检测的范围和各类方向性缺陷检出效率。
声明：
“基于磁芯环绕线圈结构的感应热像无损检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1164
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
