本发明涉及一种X或γ辐射成像检测方法与装置,属于核技术应用领域,包括射线源、前准直器、拖动机构,其特征在于:在射线源与被检客体间设置有带格栅形准直器的背散射阵列探测装置及其信号采集与处理系统,该背散射阵列探测装置的各探测器元分别探测来自客体上射线作用区内不同部位的背散射。还包括在被检客体的后面设置透射阵列探测装置及其信号采集与处理系统,以及置于该透射阵列探测装置前的后准直器。本发明可使其中有机物或其它富含氢元素物质的影像能自动加亮,进一步结合透射辐射成像技术,更有利于获取被检客体的全面信息。
声明：
“X或γ辐射成像检测方法与装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
804
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
