本发明涉及透射电子显微镜配件及低维材料原位测量研究领域，具体为一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统。该系统包括：用于传导电信号的高真空圆形气密连接器、表面绝缘的中空样品杆框架、置于样品杆框架内的导线、陶瓷加热片、热敏电阻、控温单元、加热
芯片等。热敏电阻和陶瓷加热集成于微型样品台上，通过导线和圆形气密连接器与外部电路单元连接，用于监控微型样品台的加热温度、加热速率和温度稳定性；加热芯片置于微型样品台上，可进一步对样品微区进行温度调控。本发明最大限度地实现在真空环境中和加热、加电外场条件下对材料宏观性能的原子尺度测量与研究，广泛适用于探究各种高温相变、电学性能、热电性能、化学反应等。
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“透射电子显微镜用原位电学样品杆系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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