本发明公开了一种基于扫描电镜的元素晶界偏析半定量方法，该方法包括样品制备、并在晶界处进行能谱分析，根据公示
![]()
得到晶界处的偏析量，其中在晶界处和晶粒内的偏析元素固溶值来分别定义
![]()
Nrb是参考元素的位密度，用软件Casino模拟蒙特卡洛电子轨迹可得到电子束斑直径d1，可以再根据公示
![]()
可以得到偏析元素在晶界处的化学宽度。本发明在扫描电镜的平台下实现了晶界偏析的半定量，还具有制样方便、操作相对容易等优点。本发明方法是通过扫描电镜在晶界上收集能谱，并从晶界能谱中扣除晶粒的贡献后，获得晶界处的化学成分信息，能广泛应用于材料表征技术领域。
声明：
“基于扫描电镜的元素晶界偏析半定量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
933
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
