本发明公开了一种基于逐层减薄的金属箔带内应力分布测量方法，包括：通过用化学方法从大面积金属箔带上切下试样小片，对其进行单面均匀蚀刻，刻蚀多次，每次蚀刻去除相同厚度，测量蚀刻后试样小片沿轧制方向的弯曲变形和曲率半径，依次计算其从表面到内部的内应力，从而获得整个试样厚度范围内的内应力分布。本发明提供的金属箔带内应力分布测量方法简单、低成本、快捷有效，不需要配备特殊设备和工具，采用常用表征手段就可以得出金属箔带整个厚度范围的内应力分布，适用于厚度在50μm以下的多种纯金属及合金箔带，可以为金属箔带的生产工艺优化提供有效的参考数据。
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来源：北方有色网
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