本发明属于热学测量技术领域，具体为一种基于椭偏仪的
纳米材料熔点的测量方法。本发明利用椭偏仪测量不同温度下纳米材料的光学性质，根据纳米材料从固态转变到液态时其光学性质也会随之改变的原理，从而测得纳米材料的熔点。本发明可快速、非破坏、非接触测量纳米材料的熔点。在物理、化学、生物医学、环境科学等众多领域，具有广泛的应用前景。
声明：
“基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
737
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
