本发明涉及一种利用低分辨率近红外荧光谱测量HF高振动态粒子数分布的技术，它基于自发辐射荧光光谱技术，是一种测量HF分子高振动激发态能级粒子数分布的新方法。本发明主要应用于化学激光测试诊断技术领域，是为了简化在HF化学激光系统中测量振动激发态粒子数分布情况的过程而产生的，本发明只需要将HF基频自发辐射荧光光谱的几条P支谱线强度进行简单的加和即可，具有简单方便、精度高、非侵入性等特点。利用本发明，可以实现HF化学激光器中高振动激发态各个能级粒子数分布的快速测量。
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来源：北方有色网
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