本发明公开了一种高低温探针台测试装置，高低温探针台测试装置包括：底座、冷热台组件和多个探针组件。底座限定出盛放腔；底座设置有循环冷媒接口，冷热台组件设置于底座且对被测元件进行升温及降温，冷热台位于盛放腔内；多个探针组件设置于盛放腔。由此，通过底座、冷热台组件和多个探针组件配合，冷热台组件能够对被测元件升温和降温，可以为被测元件提供一个变化的热场，并且，多个探针组件可同时对多个被检测元件的电学、
电化学等参数进行检测，可以提升高低温探针台测试装置的检测效率，同时，高低温探针台测试装置可以与多种测试仪器连用，满足材料测试的不同测试条件，具有节能、多功能、微型化、快速升降温等优点。
声明：
“高低温探针台测试装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
974
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
