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工作原理
iEDX-150μWT采用微型低功率X光管（最大功率1.5W）激发样品表面，镀层与基材原子受激发后产生特征X荧光。其核心配置硅漂移探测器（SDD）可高效捕获荧光信号，结合智能算法与标准数据库，自动分离多层镀层的信号贡献，同步计算各层厚度（如铜上镀镍再镀金）及元素含量。设备支持从硫（S）到铀（U）的元素检测，最小光斑直径0.1mm，单次测量仅需3-8秒，且无需破坏样品或复杂前处理。
应用范围
电子制造：检测PCB板焊盘镀金层、连接器触点镀镍层厚度，确保导电性与焊接可靠性；
汽车零部件：分析发动机部件镀铬层、传感器镀层均匀性，提升耐腐蚀性与产品寿命；
航空航天：测量涡轮叶片热障涂层、铝合金表面阳极氧化膜厚度，保障高温性能；
新能源领域：检测锂电池极片涂层厚度、光伏组件镀膜均匀性，优化生产工艺。
技术参数
射线源：40kV微型X光管，管电流0-50μA可调；
探测器：硅漂移探测器（SDD），分辨率≤160eV（Mn Kα）；
测量范围：0.01μm-50μm（镀金0.01-6μm，镀镍0.1-30μm）；
样品台：支持手动三维调节，最大承重3kg，适配不规则样品检测；
安全标准：符合ISO 3497与ASTM B568标准，表面泄漏辐射＜0.1μSv/h。
产品特点
便携高效：重量仅2.8kg，一体化机身设计，支持手持与台式双模式操作，适应车间、野外等多场景；
智能分析：内置电子元件、五金行业专用软件，支持一键生成检测报告，兼容Excel数据导出；
高精度与灵活性：可选配0.05mm准直器，实现微小区域精准测量，支持多镀层系统分析；
安全耐用：采用Peltier效应半导体制冷SDD，无需液氮维护，X光管寿命超10,000小时，降低长期使用成本。
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