本发明公开了一种利用XRF荧光光谱仪测定二氧化硅含量的仪器分析方法，其特征在于：可分析的样品类型多。对固体、液体、松散粉末、压片、玻璃熔融片、滤纸等多种类型样品都可直接进行分析。该方法用来确定样品中已知元素的浓度。本方法采用二氧化硅为标准样品，以
氧化铝为基体在XRF仪器上建立标准曲线，得出标准曲线的回归方程，通过该回归方程计算得到二氧化硅含量。本发明能够实现快速检测陶粒中二氧化硅含量，精密度高，处理方便，节省化学分析试剂等优点，操作便捷准确。
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来源：北方有色网
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