本发明涉及一种消除栽培基质颗粒表面散射及水分影响的光谱检测方法，包括如下步骤：S1、栽培基质颗粒快速干燥去除所含的水分；S2、栽培基质颗粒快速粉碎；S3、利用目数≥50目的标准筛网对粉碎栽培基质颗粒进行筛选；S4、筛选后的栽培基质颗粒光谱数据采集；S5、采用理化实验测定栽培基质颗粒待测化学成分理化值；S6、以3：1的比例将样品集划分为校正集和验证集；S7、对校正集光谱数据进行预处理，并利用校正集建立栽培基质颗粒实测理化值与预处理光谱数据之间的关系模型，再利用验证集数据检验模型的预测性能。该模型用于栽培基质颗粒化学成分的快速检测，并能有效地消除栽培基质颗粒表面散射和水分对光谱预测结果的影响。
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来源：北方有色网
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