本发明公开了一种全二维色谱分离的峰检测方法，属于分析化学领域。该方法基于对原始一维分离色谱峰的峰检测与二维分离平面上的峰重构，完成全二维分离的色谱峰检测。一维色谱峰的检测，首先通过平滑和背景扣除等提高数据质量，预先定义色谱峰响应区间的划分数目，将原始色谱图进行完整切割，基于响应线与各色谱峰的交汇点，以及用户定义的峰点数阈值和色谱的单峰特性，寻找色谱峰顶点与保留时间位置，并通过改变响应划分数目及其对峰检测结果的影响，获得最终一维峰检测结果；二维分离面的峰重构，则基于一维分离的峰检测结果与实验条件，包括调谐时间与采样频率，以及色谱峰在二维分离上的保留时间漂移量，融合符合预设条件的相邻一维色谱峰，计算平均保留时间，记录并输出全二维分离的色谱峰检测结果。
声明：
“全二维色谱分离的峰检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
873
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
