本发明一种X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法，利用实验室收到的实际样品为基体，通过掺入基准试剂(或替代试剂)来制备校准样品。校准样品的数量及各成份的质量分数范围可以任意控制，校准样品的定值全部通过X射线荧光仪完成，无需进行化学分析，配备X-射线荧光分析仪的实验室即可自行制备校准样品，无需化学分析实验室及相关技术人员协助。
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“X射线荧光分析校准所用校准样品的制备和定值方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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