本发明公开了一种判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法，先在一定的测量条件下采集光学异构体各左旋体样品和右旋体样品的近红外光谱，所得光谱不进行预处理或进行化学计量学预处理，从所得光谱数据中选择建模光谱范围，对所选光谱范围的数据进行降维后，采用化学计量学方法建立并验证光学异构体的旋光性判别模型；然后取未知旋光性的光学异构体样品，按照前述相同方法采集近红外光谱并进行光谱数据的多步骤处理，最后应用所建模型进行光学异构体的旋光性判别。本发明基于光学异构体的近红外光谱，结合化学计量学技术，判别光学异构体的旋光性，具有准确、简便、快速、无损的优点。
声明：
“判别光学异构体旋光性的近红外光谱分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
992
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
