本发明公开了一种用于微全分析系统
芯片的集成式安培检测传感器，集成式安培检测传感器由检测探头、参比电极、工作电极引线、辅助电极引线和传感器外壳组成，工作电极引线通过工作电极引线孔焊接至工作电极，辅助电极引线通过辅助电极引线孔焊接至辅助电极，工作电极引线和辅助电极引线与
电化学工作站相连，参比电极外壳连接在传感器探头的环氧玻璃布的一侧，通过Ag/AgCl电极与电化学工作站连接，传感器外壳在工作电极引线、参比电极外壳和辅助电极引线的外周设有传感器外壳。本发明具有体积小、灵敏度高、检测重现性与稳定性好、集成化程度高、昂贵部件可回收等特点，满足多种离子及其化合物的便携式、集成化检测需求。
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“用于微全分析系统芯片的集成式安培检测传感器” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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