本发明涉及一种太赫兹波性能的检测装置和方法，采用了具有可调谐反射空间太赫兹波效果的本征锗材料平板、抛物面镜、二维扫描振镜和两个一维直流电机，将本征锗材料平板固定在太赫兹准直光束传输的路径中，通过调节二维扫描振镜，使缩束后的光束扫描本征锗材料的不同空间位置，反射需要探测的区域，同时用电光晶体探测太赫兹光束的时域光谱，最后通过后期频谱分析处理，即可实现太赫兹光束不同区域内电场幅度、频率和相位的数据提取。可以解决国际上对源特征探测的科学难题，为后期的科学研究工作奠定基础，在实际应用中可以帮助使用者针对不同的源采用不同的特征选取手段，提高太赫兹波的应用效率。
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来源：北方有色网
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