本实用新型公开了一种IC仿真卡,包括基片和镶嵌在基片或附在基片上的对应于集成电路
芯片的电触点,所述的电触点中包括对应于集成电路的供电电源触点C1和信号地触点C5,特点为在基片中的触点C1和触点C5中至少有一触点有引信号线,在基片中的其它对应于集成电路的电触点包括上述基片中的触点C1和触点C5中未引信号线的触点,至少再有一触点有引信号线。因而能方便地用于IC卡仿真及IC卡外部接口设备性能检测。
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来源：北方有色网
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