本发明提供了一种可设置脉宽范围更广，脉冲边沿时间更短，且能拓展触发外接仪器，进行时序控制数据采集的可靠的新型光电接近传感器的电性能测试系统。本发明包括TIB主控制板（1）、LED测量系统（2）、PD测量系统（3）及上位机（4），TIB主控制板分别与LED测量系统、上位机及待测产品（5）电信号连接，PD测量系统与待测产品的PD部相连接，LED测量系统包括脉冲发生器（21）和电压电流采集测量仪器（22），TIB主控制板包括主控MCU（11）、触发电路（12）和输入脉冲电流切换模块（13），触发电路触发电压电流采集测量仪器的工作状态。本发明可应用于光电产品性能检测领域。
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来源：北方有色网
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