本申请属于光学遥感器系统性能检测技术领域，特别涉及一种用于光学系统竖直状态系统波像差测试的立式检测系统，包括：桁架主体、二维平移调整台、平面反射镜组件，所述桁架主体用于承载二维平移调整台和所述平面反射镜组件；所述二维平移调整台安装在所述桁架主体的上端，所述平面反射镜组件安装在所述二维平移调整台上，所述平面反射镜组件用于反射光学系统射出的平行光，所述二维平移调整台带动所述平面反射镜实现二维平移运动。实现了大口径光学系统竖直状态的光路自准直，检测多个子孔径的系统波像差，继而拼接获取全口径的系统波像差，完成光学系统竖直极限工况下的系统像质测试，有效解决了以往只能用仿真实现验证的问题。
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“一种用于光学系统竖直状态系统波像差测试的立式检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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