本发明公开了一种基于嵌入式测量线圈的磁性材料磁性能测量装置。可动极头和固定极头的中心嵌有第一或者第二测量线圈；当可动极头中心嵌有第一测量线圈时，固定极头中心嵌有第二测量线圈；当可动极头中心嵌有第二测量线圈时，固定极头中心嵌有第一测量线圈；被测样品位于第一、第二测量线圈之间。第一测量线圈为测量J或者B线圈，所述的第二测量线圈为测量H线圈。第一、第二测量线圈沿着磁化方向开闸嵌入或者沿垂直于磁化方向开闸嵌入。本发明采用嵌入式线圈，避免了取样过程中费时、费力、费料等问题，避免了人为因素对测量结果的影响；可对超薄产品进行性能检测，能对同一磁体的均匀性进行研究分析；对产品可直接测量，实现无损测量。
声明：
“基于嵌入式测量线圈的磁性材料磁性能测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1021
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
