本申请涉及显示技术领域，具体公开了一种阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法，该阵列基板包括显示区和包围显示区的非显示区，显示区包括多条栅线和多条数据线，多条栅线和多条数据线垂直交叉设置；非显示区包括与栅线连接的栅开关、与数据线连接的数据开关、与栅开关连接的栅焊盘、与数据开关连接的数据焊盘以及与栅焊盘和数据焊盘均连接的控制器，控制器用于打开栅开关，非显示区还包括用于打开数据开关的公共焊盘。通过控制器和公共焊盘的设置使得数据开关和栅开关可以独自的完成打开的动作，实现阵列基板的性能检测，保障阵列基板的制备良率；并且无须在非显示区内额外设置焊盘区域用于连接，节省阵列基板的外围布线空间。
声明：
“阵列基板、显示装置及阵列基板的检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
996
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
