本发明公开了一种晶闸管带外电路开展耐压性能测试的漏电流计算方法，包括：读取晶闸管阻尼回路的阻尼电容容值C
b和均压电阻阻值R
DC；读取晶闸管带外电路开展耐压性能测试的晶闸管电压采样数据U(t)；对U(t)进行平滑处理，得到平滑后的波形Us(t)；截取一个周期20ms的U
s(t)数据；计算所截取的U
s(t)数据的最大值U
max、最小值U
min以及最大值最小值出现的时间差t；利用U
max、U
min、t、C
b计算阻尼电容放电电流I
cb；再利用I
cb计算得到晶闸管漏电流I
th。本发明根据阻尼电容和均压电阻参数，利用晶闸管电压的采样数据计算晶闸管漏电流，一方面避免了晶闸管耐压性能测试过程中增加电流测点，另一方面也使带外电路开展晶闸耐压性能检测成为可能。
声明：
“一种晶闸管带外电路开展耐压性能测试的漏电流计算方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
770
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
