本发明提出了一种
芯片自动化检测方法和装置，所述方法包括：在机械手将托盘从上料区移动至下料区的过程中，进行丝印ID检测、外观检测和性能检测；通过丝印ID检测进行丝印ID的获取，在性能测试时获取芯片ID；然后将丝印ID和芯片ID结合来锁定具体的芯片，即绑定后的丝印ID和芯片ID可以作为芯片的唯一身份标识，从而基于芯片的唯一身份标识可以将芯片的外观检测结果和性能测试结果进行整合，便于用户或检测管理人员快速了解具体芯片的整体状况，分类结果更精准。
声明：
“一种芯片自动化检测方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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