本说明书实施例提供一种在IC验证环境中
芯片读写性能的自动检测系统和方法，系统包括：用例实现模块，用于在回归测试过程中通过预设测试用例控制芯片中每一个待检测接口传输预设量的读写数据，并触发预设检测模块对读写数据进行数据量的统计；预设测试用例为预先添加至回归测试所采用的测试用例集中辅助实现读写性能检测的测试用例；预设检测模块，用于在所统计的数据量达到预设量时，根据所用的时间计算待检测接口的读写性能实际值；脚本处理模块，用于在回归测试结束后根据待检测接口对应的读写性能实际值，确定对应的读写性能检测结果，并将读写性能检测结果发送至打印接口进行打印。本发明可以快速定位到问题，提高效率。
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“在IC验证环境中芯片读写性能的自动检测系统和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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