本发明提供的一种基于电子元件性能数据的检测方法及系统，涉及数据处理技术领域。在本发明中，基于获取的性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个电子元件的性能是否存在异常的解析结果；针对每一个电子元件，基于该电子元件对应的解析结果，确定将该电子元件对应的一组性能检测数据作为训练样本的类型；基于获取到的分别作为正训练样本和负训练样本的多组性能检测数据对预先构建的神经网络模型进行训练，得到对应的电子元件性能检测模型。采用以上步骤对性能检测数据进行处理，可以提高对电子元件的性能是否存在异常的检测精度。
声明：
“一种基于电子元件性能数据的检测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
870
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
