本发明涉及光通信技术领域，具体为涉及一种光器件的性能检测系统及测试方法。其特征在于：包括了光模块1、一入多出的光开关2、多入一出的光开关3、功率探测模块4、微控单元MCU5、串口6、模拟电压采集电路7、PC上位机8、光模块控制电路9、一入多出逻辑门控制电路10、多入一出逻辑门控制电路11。本发明通过集成了光源功能，光功率计功能以及光路切换功能，使其可以通过上位机直接控制与读取光源，光功率，光通道，因而待测器件只需要连接一次，提升了效率并降低了测试误差，能一次性的测量出光器件的插入损耗、波长一致性以及通道相关损耗，缩短测试时间。
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来源：北方有色网
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