本发明提供一种正电子发射断层成像系统飞行时间性能检测方法及装置，该方法包括：使用该系统对活度规则分布的受检对象进行数据采集；将采集的数据进行有飞行时间信息的反投影操作，获取第一反投影数据；将采集的数据进行无飞行时间信息的反投影操作，获取第二反投影数据；将第一及第二反投影数据进行对比，根据对比数据获取系统的飞行时间性能。本发明可便捷高效地检测系统的飞行时间性能。
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“正电子发射断层成像系统飞行时间性能检测方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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